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Fraunhofer-Center für Silizium Photovoltaik
PHOTOVOLTAIK IST IHR THEMA? WIR BEI FRAUNHOFER BIETEN IHNEN AB SOFORT EINE SPANNENDE TÄTIGKEIT IM BEREICH SILIZIUMTECHNOLOGIEN AN.

Masterarbeit zum Thema »Herstellung und Charakterisierung von gesputterten dünnen Schichten für photovoltaische Anwendungen«

Kennziffer: CSP-2017-20
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS und das Fraunhofer-Institut für Solare Energiesysteme ISE suchen für ihr gemeinsames Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik CSP in der Gruppe »Diagnostik Solarzellen« eine/n Studenten/-in zur Bearbeitung eines wissenschaftlichen Themas.

Was Sie mitbringen
Für die Stelle wird ein/e Student/in aus den Bereichen der Physik, der Chemie oder der Materialwissenschaften gesucht. Vorausgesetzt werden experimentelles Geschick und Erfahrung mit moderner Messtechnik und Analytik. Vorkenntnisse im Umgang mit Hochvakuumtechnik sind wünschenswert. Nach einer angemessenen Einarbeitungszeit wird eine verantwortungsvolle Arbeitsweise sowie Teamfähigkeit und die Bereitschaft der Zusammenarbeit mit dem weiteren Forschungskolleg erwartet.

Was Sie erwarten können
Für die industrielle Fertigung von Dünnschichtphotovoltaik-Solarmodulen kommen für die Abscheidung der verwendeten Dünnschichten unterschiedliche Verfahren zum Einsatz. Als besonders attraktiv für den großtechnischen Einsatz gilt die Magnetron-Sputter-Methode, da diese im Vergleich zu anderen Abscheidemethoden wie der thermischen Verdampfung, der Sprühpyrolyse oder der chemischen Gasphasenabscheidung gewisse Vorteile bietet. Hierzu zählen z.B. vergleichsweise geringe Abscheidetemperaturen, gute Schichthaftung, hohe Abscheideraten, gleichmäßige Schichtdickenverteilung und gute Reproduzierbarkeit.

Im Rahmen der Arbeit sollen mit Hilfe verschiedener Magnetron-Sputter-Methoden neuartige Oberflächenbeschichtungen hergestellt und charakterisiert werden, welche sich für die Anwendung in der Dünnschichtphotovoltaik eignen. Die Beschichtungen werden am Hochvakuum Beschichtungssystem SLS 2000 vorgenommen. Die
Charakterisierung erfolgt anschließend hinsichtlich der Schichtdicke und der Schichtzusammensetzung. Durch geeignete Kombination der Messverfahren Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) und Röntgen-Photoelektronen-spektroskopie (XPS) sollen Absorberschichten hinsichtlich ihrer chemischen Zusammensetzung quantitativ und Tiefen-aufgelöst charakterisiert werden. Die Ergebnisse sollen im Zusammenhang mit mikrostrukturellen Oberflächeneigenschaften diskutiert werden.  

Aufgabenprofil
  • Herstellung von Schichten auf Glas mit Hilfe von DC, pulsed DC und RF-Magnetron-Sputtern
  • Charakterisierung der Schichten hinsichtlich Schichtdicken, Stöchiometrie und Dotierprofile

Die Vergütung richtet sich nach der Gesamtbetriebsvereinbarung zur Beschäftigung der Hilfskräfte.

Fraunhofer ist die größte Organisation für anwendungsorientierte Forschung in Europa. Unsere Forschungsfelder richten sich nach den Bedürfnissen der Menschen: Gesundheit, Sicherheit, Kommunikation, Mobilität, Energie und Umwelt. Wir sind kreativ, wir gestalten Technik, wir entwerfen Produkte, wir verbessern Verfahren, wir eröffnen neue Wege.

Fragen zu dieser Stelle beantwortet Ihnen:

Dr. Volker Naumann
Tel. 0345 5589-5113
volker.naumann@csp.fraunhofer.de


Bitte geben Sie Ihre Bewerbung vorrangig online ab oder richten diese ausschließlich an folgende E-Mailadresse:

personal@csp.fraunhofer.de



Fraunhofer-Center für Silizium Photovoltaik
Halle

http://www.csp.fraunhofer.de


Erschienen auf academics.de am 26.06.2017
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