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Fraunhofer-Center für Silizium Photovoltaik
PHOTOVOLTAIK IST IHR THEMA? WIR BEI FRAUNHOFER BIETEN IHNEN AB SOFORT EINE SPANNENDE TÄTIGKEIT IM BEREICH DIGANOSTIK SOLARZELLEN AN.

Masterarbeit zum Thema »ToF-SIMS und XPS zur chemischen und elektronischen Charakterisierung von CdTe Solarzellen«

Kennziffer: CSP-2017-7
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS und das Fraunhofer-Institut für Solare Energiesysteme ISE suchen für ihr gemeinsames Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik CSP in der Gruppe »Diagnostik Solarzellen« eine/n Studenten/-in zur Bearbeitung eines wissenschaftlichen Themas.

Was Sie mitbringen
Für die Stelle wird ein/e Student/in der Chemie, der Physik, der Materialwissenschaften oder verwandter Bereiche gesucht. Es werden sowohl Erfahrungen im Umgang mit komplexen Analyseinstrumenten vorausgesetzt als auch grundlegende Kenntnisse auf dem Gebiet der Photovoltaik erwartet. Sie sollten eine selbstständige Arbeitsweise und Teamfähigkeit   mitbringen.

Was Sie erwarten können
Dünnschichtphotovoltaikmodule auf Basis von Cadmiumtellurid (CdTe) als Absorbermaterial haben neben der kristallinen Siliziumtechnologie hohe Bedeutung auf dem Photovoltaikmarkt. Großes Potenzial für Wirkungsgradverbesserungen gibt es in der CdTe-Dünnschichttechnologie unter anderem bei der elektronischen Optimierung der Absorberschicht durch Dotierung bzw. Gradierung der Materialzusammensetzung.

Im Rahmen der Arbeit sollen analytische Methoden zur tiefenaufgelösten Bestimmung der Materialzusammensetzung eingesetzt werden. Durch geeignete Kombination verschiedener Messverfahren (Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS), Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)) sollen CdTe-Absorberschichten hinsichtlich ihrer chemischen Zusammensetzung quantitativ und mit hoher Tiefenauflösung charakterisiert werden. Dafür soll eine Methoden-übergreifende Kalibrierung der Messdaten etabliert und verifiziert werden. Die zu entwickelnde Berechnungsvorschrift zur Quantifizierung von Messsignalen soll eine umfängliche Betrachtung systematischer und zufälliger Messfehler enthalten. Die chemischen Schichteigenschaften sollen weiterführend mit tiefenaufgelösten Messungen zur Bandstruktur mittels Röntgen-/UV-Photoelektronenspektroskopie (XPS/UPS) korreliert werden.

Es besteht die Möglichkeit, im Vorfeld ein Forschungspraktikum zu absolvieren, in dessen Rahmen die Analysemethoden erlernt werden können.

Aufgabenprofil
    1. Weiterentwicklung von experimentellen oberflächenphysikalischen Messverfahren
    2. Chemische, elektronische und mikrostrukturelle Charakterisierung in der Dünnschicht- und Oberflächenanalytik
    3. Quantitative und statistische Datenanalyse und Modellbildung

Die Vergütung richtet sich nach der Gesamtbetriebsvereinbarung zur Beschäftigung der Hilfskräfte.

Fraunhofer ist die größte Organisation für anwendungsorientierte Forschung in Europa. Unsere Forschungsfelder richten sich nach den Bedürfnissen der Menschen: Gesundheit, Sicherheit, Kommunikation, Mobilität, Energie und Umwelt. Wir sind kreativ, wir gestalten Technik, wir entwerfen Produkte, wir verbessern Verfahren, wir eröffnen neue Wege.

Fragen zu dieser Stelle beantworten gerne:

Herr Dr. Christian Hagendorf
Tel. 0345 5589-5100
E-Mail Christian.Hagendorf@csp.fraunhofer.de

Herr Dr. Volker Naumann
Tel. 0345 5589-5113
E-Mail Volker.Naumann@csp.fraunhofer.de

Bitte geben Sie Ihre Bewerbung vorrangig online ab oder richten diese ausschließlich an folgende Post- bzw. E-Mailadresse:

personal@csp.fraunhofer.de

Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik
Personalreferat
Otto-Eißfeldt-Str. 12
06120 Halle (Saale)

Fraunhofer-Center für Silizium Photovoltaik
Halle

http://www.csp.fraunhofer.de


Erschienen auf academics.de am 20.03.2017
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